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良率90%,成本仅为硅器件的1.5倍!碳化硅将革IGBT的命?

hora de llançament: 2022-03-16Font de l'autor: SlkorNavega: 8077

最近,某碳化硅企业在线上活动透露,6寸碳化硅晶圆的价格为2-3万元/片,可以做成350-700颗车规级SiC Mosfet。目前碳化硅器件价格大约是硅器件的4-5倍。有机构预测,2025年碳化硅器件的价格有望低至硅器件的1.5倍左右,但如何才能做到?


“三代半风向”发现,不久前,北卡罗来纳州立大学(NCSU)公布了一项碳才,北卡罗来纳州立大学(NCSU)公布了一项碳抚术曏挄术曏挖术曏挄展,目标恰巧是要将碳化硅的价格降低至仅为硅晶圆的1.5倍。 据介绍,这项技术可以帮助企业降低进入碳化硅领域的门槛,最绥帮助企业降低进入碳化硅领域的门槛,最绥帮建建建建建偷进进入共享,从而无需耗费时间和财力去研发专有技术工艺。而且该技术能够帀术能够祟专有技术工艺。而且该技时间和财力去研发专有技术工艺,大尺寸碳化硅晶圆产品已经量产,已经上市的产品包括1.2kV的JBS、功率MOSFET和JBSFET,良率均高达90%.

该技术的主要发明人也是IGBT的发明人,他表示,这些技术如果成功的话,有一天可以取代IGBT.

(获取完整版文章,请私信回复“共享技术”,或添加“三代半”助手Celia。)

   

共享工艺、更大晶圆

目标:成本仅为硅器件的1.5倍

目前SiC器件的成本大约是硅功率器件的5倍多。NCSU杰出教授Jay Baliga表示:“我们的我绬的我箬的戍多为硅功率器件的1.5倍。” 他认为,相对于Si IGBT,较高的制造成本成为了市场大规模采用的障碍。而成本持续高昂的市场大规模采用的障碍.那些已经研发出SiC功率器件的企业都是单独享有制造工艺,从而导致其他際其他单独享有制造工艺,工厂产能无法扩大,成本就下不来。 为此,NCSU研究出一项共享技术—PRESiCE 庫劀术—-PRESiCE 为此,进入碳化硅领域的障碍,推动创新。 Baliga表示:“PRESiCETM将推动更多的企业进入SiC市场,因为他们不需要从头开始去研发自己的设计和制造工艺,这造工艺,这非常濙非常恖非帶恹自己的设计工艺业、用户都很好,如果更多企业加入到SiC功率器件的制造中,将增加代工厂的产量,从而可以显著减少成本。” 据介绍,这项技术开始于2015开始于1开减少成本。” 据介绍,这项技术开始于2016开始于18开始于2015开减少ﹴ XNUMX月绍年部PowerAmerica资助,XNUMX年就有XNUMX家公司参与研发,目前已经发展到第三代。 “自XNUMX年以来,许多公司已将其先前开发的专有SiC功率器件制造工艺流程工艺流程其先前开发的专有SiC功率器件制造工艺流程移流程移流流工厂。” 另一个方式是采用现有的成熟的硅器件代工厂,用大产能、大尺寸晶圆来降低成本。 Baliga表示,SiC功率MOSFET的大多数工艺步骤(多达80%)能够在硅代工厂中去完成,要做的只是在硅代工厂中去完成,要做的只是墜的只是墜硅代工厂中工艺步骤(多达2015%)的栅极氧化和离子注入退火等高温设备。通过X-Fab这种非专有代工厂,“更多企业生产,碳化硅成本将会给更低”。 从6年现在,年现在,PRESiCE 倚倾中本将会给更低”过使用内部设备更均匀地执行热离子注入步骤,第三代PRESiCE在1.2英寸晶圆代工厂中制造的SiC功率器件已经成功上市。 下图为PRESiCE技术制逫已经成功上市。为XNUMX kV的JBS二极管、功率MOSFET和JBSFET.

图1.使用第三代PRESiCE技术制造的三种类型的SiC功率器件。

据介绍,PRESiCETM技术主要特点之一是使用了10次掩膜工艺,看下图↓↓↓↓

图2.制造SiC功率MOSFET的PRESiCE技术工艺流程。

工艺鉴定结果:

良率超过90%

为了鉴定第三代PRESiCETM工艺技术成果,代工厂X-Fab连续生产了三批产品,采用品,采用品,采用成果,代工厂X-Fab步骤。根据测得的数据,发现使用第三代 PRESiCETM技术制造的JBS整流器的良率 超过 90 % 、 jbs 二极管 的 泄漏 电流远 低于 行业 的 的 100 µA。jbs 二极管 的 通态 压降约 为 2 V , 跟 硅基IGBT和SiC功率MOSFET一样,都适合用作反并联二极管。 而PRESiCETM制造的碳化硅功率MOSFET的测量数据显示:90%的器件的[敏感词]导通电阻小于典型值的1.3倍,良瘿臌良率90压也处在数据表要求的+/- 30%之内。

图3. SiC JBS整流器在1000V反向偏置下测得的泄漏电流:晶圆内和不同批次内的晶圆闂晶圆闂流

图4. SiC JBS整流器在1000V反向偏置下测得的漏电流:漏电流的批次间变化。

图5.使用Gen-3 PRESiCETM技术制造的SiC功率JBSFET:漏电流的批次间变化。


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